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低能兒的生病原因分析

作者:國(guó)康生物時(shí)間:2015-03-30 13:58 次瀏覽

信息摘要:

兒童智力測(cè)試儀 專家今天要給大家分析一下低能兒的可能原因。 兒童智力測(cè)試儀發(fā)現(xiàn) 智力的構(gòu)成是一個(gè)相當(dāng)復(fù)雜的問(wèn)題,,它的產(chǎn)生、發(fā)展、擴(kuò)充、完善都高不開(kāi)大腦這個(gè)物質(zhì)基礎(chǔ),而...

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     兒童智力測(cè)試儀專家今天要給大家分析一下低能兒的可能原因。
     
兒童智力測(cè)試儀發(fā)現(xiàn)智力的構(gòu)成是一個(gè)相當(dāng)復(fù)雜的問(wèn)題,,它的產(chǎn)生、發(fā)展、擴(kuò)充、完善都高不開(kāi)大腦這個(gè)物質(zhì)基礎(chǔ),而大腦的生長(zhǎng)發(fā)育又是受著先天遺傳因素和后天教育(環(huán)境刺激)因素的影響。首先要保證大腦完整無(wú)損,才有可能在后天教育因素的作用下,獲得較高的智力。
     
兒童智力測(cè)試儀了解到所謂低能兒,是指智力不或智力落后的兒重。研究認(rèn)為,低能兒一般可分為兩大類:一是弱智型,因制約智力的諸遺傳基因偶然作出不正當(dāng)?shù)慕M合而引起。另一類是病理型,這種智力障礙屬于疾病的一種局部性癥狀,基原因有遺傳性與非遺傳性的外因性兩個(gè)方面。遺傳性原因有染色體異常和代謝障礙等,非遺傳性的外因性原因更是多種多樣。
     
兒童智力測(cè)試儀研究發(fā)現(xiàn)許多遺傳病與智力發(fā)育有著密切的關(guān)系,對(duì)此我們必須予以足夠的重視,如先天愚型綜合征,就是先天性大腦發(fā)育不全而導(dǎo)致智力低下的最常見(jiàn)的遺傳病。該病所致的智力低下患兒約占全部智力低下患兒的10~20%,患者具有特殊的面容:眼裂較小、兩眼距離較寬、通鼻梁、流誕水、常伸出舌頭呆笑?;颊哌€常伴有其他先天畸形,其中以先天性心臟病較為多見(jiàn),機(jī)體對(duì)疾病的抵抗力也很弱,易感染疾病而早期死亡。該病患者病變程度輕重不一,輕者可存活到成人期,但智力低下,男性患者均無(wú)生育能力,女性思者雖能生育,但能遺傳給后代。
     
兒童智力測(cè)試儀提醒您,國(guó)康生物兒童智力測(cè)試儀可以根據(jù)兒童的測(cè)試結(jié)果科學(xué)的分析兒童智力發(fā)展水平。


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